<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim">
 <record>
  <leader>     cam a22     u  4500</leader>
  <controlfield tag="001">128576715</controlfield>
  <controlfield tag="003">CHVBK</controlfield>
  <controlfield tag="005">20200921121455.0</controlfield>
  <controlfield tag="008">880212s1977    xxk    |      10   |eng|d</controlfield>
  <datafield tag="020" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">0-85498-121-7</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="035" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">(OCoLC)636288992</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="035" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">(NEBIS)000217028</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="040" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">ETH-BIB</subfield>
   <subfield code="b">ger</subfield>
   <subfield code="c">ETH-BIB</subfield>
   <subfield code="e">ETHICS-ISBD</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="245" ind1="0" ind2="0">
   <subfield code="a">Radiation effects in semiconductors, 1976</subfield>
   <subfield code="b">invited and contributed papers from the 9th International conference on radiation effects in semiconductors : Dubrovnik, 6-9 September 1976</subfield>
   <subfield code="c">ed.: N.B.Urli, J.W.Corbett</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="246" ind1="1" ind2=" ">
   <subfield code="a">ICDS-9</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="260" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">Bristol</subfield>
   <subfield code="a">London</subfield>
   <subfield code="b">Institute of physics</subfield>
   <subfield code="c">1977</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="263" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">ICDS-9</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="300" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">XII, 534 p.</subfield>
   <subfield code="b">fig.; tab.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="490" ind1="0" ind2=" ">
   <subfield code="a">Conference series / The Institute of Physics</subfield>
   <subfield code="v">no. 31</subfield>
   <subfield code="i">31</subfield>
   <subfield code="w">(NEBIS)000038680</subfield>
   <subfield code="9">126550948</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">HALBLEITERBAUELEMENTE + ELEKTRONISCHE BAUELEMENTE (ELEKTRONIK)</subfield>
   <subfield code="x">ger</subfield>
   <subfield code="0">(ETHUDK)000028648</subfield>
   <subfield code="2">ethudk</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">RADIOCHEMIE</subfield>
   <subfield code="x">ger</subfield>
   <subfield code="0">(ETHUDK)000016059</subfield>
   <subfield code="2">ethudk</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">UNTERSUCHUNG VON BESTRAHLUNGSWIRKUNGEN (KERNTECHNIK)</subfield>
   <subfield code="x">ger</subfield>
   <subfield code="0">(ETHUDK)000027910</subfield>
   <subfield code="2">ethudk</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="655" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">Konferenzschrift</subfield>
   <subfield code="z">Dubrovnik</subfield>
   <subfield code="y">1976/09</subfield>
   <subfield code="2">gnd-content</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">HALBLEITERBAUELEMENTE + ELEKTRONISCHE BAUELEMENTE (ELEKTRONIK)</subfield>
   <subfield code="z">ger</subfield>
   <subfield code="u">621.382</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">RADIOCHEMIE</subfield>
   <subfield code="z">ger</subfield>
   <subfield code="u">541.15</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">UNTERSUCHUNG VON BESTRAHLUNGSWIRKUNGEN (KERNTECHNIK)</subfield>
   <subfield code="z">ger</subfield>
   <subfield code="u">621.039.553</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">ÉLÉMENTS SEMI-CONDUCTEURS + COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES (ÉLECTRONIQUE)</subfield>
   <subfield code="z">fre</subfield>
   <subfield code="u">621.382</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">SEMICONDUCTOR COMPONENTS + ELECTRONIC COMPONENTS (ELECTRONICS)</subfield>
   <subfield code="z">eng</subfield>
   <subfield code="u">621.382</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">RADIOCHEMISTRY</subfield>
   <subfield code="z">eng</subfield>
   <subfield code="u">541.15</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">RADIOCHIMIE</subfield>
   <subfield code="z">fre</subfield>
   <subfield code="u">541.15</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">IRRADIATION EFFECTS ANALYSIS (NUCLEAR ENGINEERING)</subfield>
   <subfield code="z">eng</subfield>
   <subfield code="u">621.039.553</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">ANALYSE D'ÉFFETS DES IRRADIATIONS (TECHNIQUE NUCLÉAIRE)</subfield>
   <subfield code="z">fre</subfield>
   <subfield code="u">621.039.553</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="700" ind1="1" ind2=" ">
   <subfield code="a">Urli</subfield>
   <subfield code="D">N.B.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="700" ind1="1" ind2=" ">
   <subfield code="a">Corbett</subfield>
   <subfield code="D">J.W.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="711" ind1="2" ind2=" ">
   <subfield code="a">International Conference on Defects in Semiconductors</subfield>
   <subfield code="0">(DE-588)1091875731</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="898" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">BK020800</subfield>
   <subfield code="b">XK020000</subfield>
   <subfield code="c">XK020000</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="913" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="c">Dubrovnik</subfield>
   <subfield code="a">Kongress = Congrès</subfield>
   <subfield code="b">1976/09</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="949" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="F">E08</subfield>
   <subfield code="b">E08</subfield>
   <subfield code="c">E08BI</subfield>
   <subfield code="j">410-007</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="949" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="F">E01</subfield>
   <subfield code="b">E01</subfield>
   <subfield code="c">MG</subfield>
   <subfield code="j">P 712759: 31</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="P">490</subfield>
   <subfield code="E">--</subfield>
   <subfield code="a">Conference series / The Institute of Physics</subfield>
   <subfield code="v">no. 31</subfield>
   <subfield code="i">31</subfield>
   <subfield code="w">(NEBIS)000038680</subfield>
   <subfield code="9">126550948</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="P">700</subfield>
   <subfield code="E">1-</subfield>
   <subfield code="a">Urli</subfield>
   <subfield code="D">N.B.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="P">700</subfield>
   <subfield code="E">1-</subfield>
   <subfield code="a">Corbett</subfield>
   <subfield code="D">J.W.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="P">711</subfield>
   <subfield code="E">2-</subfield>
   <subfield code="a">International Conference on Defects in Semiconductors</subfield>
   <subfield code="0">(DE-588)1091875731</subfield>
  </datafield>
 </record>
</collection>
