cam a22 u 4500 128603291 CHVBK 20200921061813.0 880212s1978 xxu |b 00 |eng|d PB-80-166028 MIT-EL-78-027 (OCoLC)638479023 (NEBIS)000223628 ETH-BIB ger ETH-BIB ETHICS-ISBD Nuclear plant reliability analysis Mikroform optimization of test intervals for standby systems in nuclear power plants : final report R. Karimi, Norman C. Rasmussen, J. Schwartz, Lothar Wolf ; prep.: Energy Laboratory & Department of nuclear engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Mass Springfield, Va. 1978 2 Microfiches KERNKRAFTWERKE + ATOMKRAFTWERKE (STROMERZEUGUNG) ger (ETHUDK)000044299 ethudk ZUVERLÄSSIGKEIT IN ELEKTROTECHNIK, ELEKTRONIK, MIKROELEKTRONIK UND NACHRICHTENTECHNIK ger (ETHUDK)000027994 ethudk u KERNKRAFTWERKE + ATOMKRAFTWERKE (STROMERZEUGUNG) ger 621.311.25%621.039 nebis E1 u ZUVERLÄSSIGKEIT IN ELEKTROTECHNIK, ELEKTRONIK, MIKROELEKTRONIK UND NACHRICHTENTECHNIK ger 621.3.019*2 nebis E1 u NUCLEAR POWER PLANTS + ATOMIC POWER PLANTS (ELECTRICAL POWER GENERATION) eng 621.311.25%621.039 nebis E1 u CENTRALES NUCLÉAIRES + CENTRALES ATOMIQUES (PRODUCTION DE COURANT) fre 621.311.25%621.039 nebis E1 u RELIABILITY IN ELECTRICAL ENGINEERING, ELECTRONICS, MICROELECTRONICS AND TELECOMMUNICATIONS eng 621.3.019*2 nebis E1 u FIABILITÉ EN ÉLECTROTECHNIQUE, ÉLECTRONIQUE, MICROÉLECTRONIQUE ET TÉLÉCOMMUNICATION fre 621.3.019*2 nebis E1 Karimi R. BK020000 XK020000 XK020000 1 MF Mikrofiche = Microfiche NEBIS E01 E01 RP MIKR: PB80/166028 NEBIS 700 1- Karimi R.