cam a22 u 4500 128679158 CHVBK 20200921121707.0 880212s1982 ne | 00 |eng|d 0-444-41903-9 (series) 0-444-42106-8 (vol. 2) (OCoLC)252080802 (NEBIS)000269102 ETH-BIB ger ETH-BIB ETHICS-ISBD Size effects in thin films C.R. Tellier and A.J. Tosser Amsterdam Elsevier 1982 IX, 310 p. fig.; tab. Thin films science and technology vol.2 2 (NEBIS)000020997 126580049 EIGENSCHAFTEN DÜNNER SCHICHTEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN) ger (ETHUDK)000015672 ethudk ELEKTRONISCHE TRANSPORTPROZESSE (PHYSIK DER KONDENSIERTEN MATERIE) ger (ETHUDK)000015280 ethudk u EIGENSCHAFTEN DÜNNER SCHICHTEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN) ger 539.216.2 nebis E1 u ELEKTRONISCHE TRANSPORTPROZESSE (PHYSIK DER KONDENSIERTEN MATERIE) ger 538.935 nebis E1 u PROPERTIES OF THIN LAYERS (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS) eng 539.216.2 nebis E1 u PROPRIÉTÉS DES COUCHES MINCES (PHYSIQUE DES SYSTÈMES MOLÉCULAIRES) fre 539.216.2 nebis E1 u PROCESSUS DE TRANSPORT ÉLECTRONIQUE (PHYSIQUE DE LA MATIÈRE CONDENSÉE) fre 538.935 nebis E1 u ELECTRON TRANSPORT (CONDENSED-MATTER PHYSICS) eng 538.935 nebis E1 Tellier Colette R. Tosser André J. BK020000 XK020000 XK020000 NEBIS E09 E09 E09BI 672/38 NEBIS E01 E01 MG P 715621: 2 NEBIS E02 E02 E02MI ZL 5450 NEBIS 490 -- Thin films science and technology vol.2 2 (NEBIS)000020997 126580049 NEBIS 700 1- Tellier Colette R. NEBIS 700 1- Tosser André J. SWISSBIB 128679158