cam a22 u 4500 128700653 CHVBK 20200921121734.0 880212s1981 gw | 10 |ger|d (OCoLC)636107266 (NEBIS)000265248 ETH-BIB ger ETH-BIB ETHICS-ISBD ger eng 20.Tagung für Elektronenmikroskopie Innsbruck, 23.-27.8.1981 : in Verbindung mit dem 14.Kolloquium des Arbeitskreises für elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen = 20th Conference on electron microscopy; combined with the 14th Colloquium for surface investigations of the German Society for electron microscopy Münster Remy 1981 XVI, 640 S. [Text: dt.-engl.]; Fig.; Diagr.; Tab. Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberfläche Band 14 20 (NEBIS)000016603 126709742 ELEKTRONENMIKROSKOPIE (PRINZIP UND METHODE) ger (ETHUDK)000015150 ethudk Konferenzschrift Innsbruck 1981/08 gnd-content u ELEKTRONENMIKROSKOPIE (PRINZIP UND METHODE) ger 537.533.35 nebis E1 u ELECTRON MICROSCOPY (PRINCIPLE AND METHODS) eng 537.533.35 nebis E1 u MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE (PRINCIPE ET MÉTHODES) fre 537.533.35 nebis E1 Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (DE-588)512545-5 Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen, EDO (DE-588)1091949646 BK020800 XK020000 XK020000 Kongress = Congrès 1981/08 Innsbruck NEBIS E01 E01 MG P 721382: 14 NEBIS 490 -- Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberfläche Band 14 20 (NEBIS)000016603 126709742 NEBIS 710 2- Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (DE-588)512545-5 NEBIS 711 2- Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen, EDO (DE-588)1091949646