<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim">
 <record>
  <leader>     cam a22     u  4500</leader>
  <controlfield tag="001">128724978</controlfield>
  <controlfield tag="003">CHVBK</controlfield>
  <controlfield tag="005">20200921121805.0</controlfield>
  <controlfield tag="008">880212s1982    xxu    |      10   |eng|d</controlfield>
  <datafield tag="020" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">0-89252-368-9</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="035" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">(OCoLC)636400285</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="035" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">(NEBIS)000260215</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="040" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">ETH-BIB</subfield>
   <subfield code="b">ger</subfield>
   <subfield code="c">ETH-BIB</subfield>
   <subfield code="e">ETHICS-ISBD</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="245" ind1="0" ind2="0">
   <subfield code="a">Submicron lithography</subfield>
   <subfield code="b">(proceedings of the meeting); Santa Clara - Calif., March 29-30, 1982</subfield>
   <subfield code="c">chairman, ed.: Phillip D.Blais</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="260" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">Bellingham - Wash.</subfield>
   <subfield code="c">1982</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="300" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">VIII, 179 p.</subfield>
   <subfield code="b">fig.; tab.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="490" ind1="0" ind2=" ">
   <subfield code="a">Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering</subfield>
   <subfield code="v">vol. 333</subfield>
   <subfield code="i">333</subfield>
   <subfield code="w">(NEBIS)000477279</subfield>
   <subfield code="9">130527327</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">LITHOGRAPHIE + MIKROLITHOGRAPHIE + NANOLITHOGRAPHIE (MIKROELEKTRONIK)</subfield>
   <subfield code="x">ger</subfield>
   <subfield code="0">(ETHUDK)000049370</subfield>
   <subfield code="2">ethudk</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="650" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">MIKROELEKTRONIK + INTEGRIERTE SCHALTUNGEN</subfield>
   <subfield code="x">ger</subfield>
   <subfield code="0">(ETHUDK)000028107</subfield>
   <subfield code="2">ethudk</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="655" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">Konferenzschrift</subfield>
   <subfield code="z">Santa Clara (CA)</subfield>
   <subfield code="y">1982/03</subfield>
   <subfield code="2">gnd-content</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">LITHOGRAPHIE + MIKROLITHOGRAPHIE + NANOLITHOGRAPHIE (MIKROELEKTRONIK)</subfield>
   <subfield code="z">ger</subfield>
   <subfield code="u">621.3.049.7,11</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">MIKROELEKTRONIK + INTEGRIERTE SCHALTUNGEN</subfield>
   <subfield code="z">ger</subfield>
   <subfield code="u">621.3.049.77</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">LITHOGRAPHY + MICROLITHOGRAPHY + NANOLITHOGRAPHY (MICROELECTRONICS)</subfield>
   <subfield code="z">eng</subfield>
   <subfield code="u">621.3.049.7,11</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">LITHOGRAPHIE + MICROLITHOGRAPHIE + NANOLITHOGRAPHIE (MICROÉLECTRONIQUE)</subfield>
   <subfield code="z">fre</subfield>
   <subfield code="u">621.3.049.7,11</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">MICROÉLECTRONIQUE + CIRCUITS INTÉGRÉS</subfield>
   <subfield code="z">fre</subfield>
   <subfield code="u">621.3.049.77</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="691" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="B">u</subfield>
   <subfield code="a">MICROELECTRONICS + INTEGRATED CIRCUITS</subfield>
   <subfield code="z">eng</subfield>
   <subfield code="u">621.3.049.77</subfield>
   <subfield code="2">nebis E1</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="700" ind1="1" ind2=" ">
   <subfield code="a">Blais</subfield>
   <subfield code="D">P.D.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="898" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">BK020800</subfield>
   <subfield code="b">XK020000</subfield>
   <subfield code="c">XK020000</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="913" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="c">Santa Clara (CA)</subfield>
   <subfield code="a">Kongress = Congrès</subfield>
   <subfield code="b">1982/03</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="949" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="F">E01</subfield>
   <subfield code="b">E01</subfield>
   <subfield code="c">MG</subfield>
   <subfield code="j">P 713011: 333</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="P">490</subfield>
   <subfield code="E">--</subfield>
   <subfield code="a">Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering</subfield>
   <subfield code="v">vol. 333</subfield>
   <subfield code="i">333</subfield>
   <subfield code="w">(NEBIS)000477279</subfield>
   <subfield code="9">130527327</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NEBIS</subfield>
   <subfield code="P">700</subfield>
   <subfield code="E">1-</subfield>
   <subfield code="a">Blais</subfield>
   <subfield code="D">P.D.</subfield>
  </datafield>
 </record>
</collection>
