Applied electron microscopy
Angewandte Elektronenmikroskopie
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Universität Regensburg
Ort, Verlag, Jahr:
Berlin :
Logos,
2002-
Format:
Periodikum (Schriftenreihe)