Anwendung der Auflicht-Dunkelfeld-Mikroskopie mit dem Leitz-Ultropak bei verfahrenstechnischen Problemen in der grafischen Industrie
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
von H. Martin
Ort, Verlag, Jahr:
[S.l.] :
[s.n.],
1980
Enthalten in:
Publications. Méthodes d'analyse, Tome 2, f. 123-128
Format:
Artikel