Anwendung der Auflicht-Dunkelfeld-Mikroskopie mit dem Leitz-Ultropak bei verfahrenstechnischen Problemen in der grafischen Industrie

Verfasser / Beitragende:
von H. Martin
Ort, Verlag, Jahr:
[S.l.] : [s.n.], 1980
Enthalten in:
Publications. Méthodes d'analyse, Tome 2, f. 123-128
Format:
Artikel
ID: 192912755