High-resolution mapping of the wheat Lr34 leaf rust resistancegene and candidate gene analysis

Verfasser / Beitragende:
Laurenz Reiser
Ort, Verlag, Jahr:
Zürich : [s.n.], 2008
Beschreibung:
66 S. : Ill.
Format:
Buch (Hochschulschrift)
ID: 195967291