Optimale Dimensionierung von Planplattenmikrometern
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[E. Jänich]
Ort, Verlag, Jahr:
1960
Enthalten in:
Schweizerische Zeitschrift für Vermessung, Kulturtechnik und Photogrammetrie = Revue technique suisse des mensurations, du génie rural et de la photogrammétrie, 58/4(1960)
Format:
Artikel (online)