Near infrared microscopy, a simple but effective technique to analyze microdefects in GaAs
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
K. Sonnenberg und A. Altmann
Ort, Verlag, Jahr:
Jülich :
Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek,
1994
Beschreibung:
107 S. : Ill.
Format:
Buch