Near infrared microscopy, a simple but effective technique to analyze microdefects in GaAs

Verfasser / Beitragende:
K. Sonnenberg und A. Altmann
Ort, Verlag, Jahr:
Jülich : Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek, 1994
Beschreibung:
107 S. : Ill.
Format:
Buch
ID: 314623795