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The thermal expansion of silicon nitride measured by X-ray diffraction
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
J. Henney, J.W.S. Jones
Ort, Verlag, Jahr:
Harwell, Berkshire :
AERE,
1971
Beschreibung:
6 S.
Format:
Buch
ID:
328693669
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Henney, J.
Jones, J.W.S.
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