EMV-Ringvergleich der DATech/RegTP/PTB - Ergebnisse, Erkenntnisse und Schlussfolgerungen (EMC-Intercomparison by DATech/RegTP/PTB - Results, Findings and Conclusions)

Verfasser / Beitragende:
[M. Spitzer, K. Münter, R. Pape, J. Glimm, L. Dallwitz]
Ort, Verlag, Jahr:
2003
Enthalten in:
tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme, 70/3/2003(2003-03-01), 151-162
Format:
Artikel (online)
ID: 378865706
LEADER caa a22 4500
001 378865706
003 CHVBK
005 20180305123357.0
007 cr unu---uuuuu
008 161128e20030301xx s 000 0 ger
024 7 0 |a 10.1524/teme.70.3.151.20093  |2 doi 
035 |a (NATIONALLICENCE)gruyter-10.1524/teme.70.3.151.20093 
245 0 0 |a EMV-Ringvergleich der DATech/RegTP/PTB - Ergebnisse, Erkenntnisse und Schlussfolgerungen (EMC-Intercomparison by DATech/RegTP/PTB - Results, Findings and Conclusions)  |h [Elektronische Daten]  |c [M. Spitzer, K. Münter, R. Pape, J. Glimm, L. Dallwitz] 
246 1 |a EMC-Intercomparison by DATech/RegTP/PTB - Results, Findings and Conclusions 
520 3 |a Mit dem von der DATech in den Jahren 2000/2001 durchgeführten Ringvergleich aller ca. 100 in Deutschland akkreditierten EMV-Laboratorien wurden für Emissionsmessungen, Störspannungsmessungen auf Leitungen sowie für Messungen der Störfestigkeit gegenüber elektromagnetischen Feldern routinemäßige Ergebnisse für ein neutrales Probegerät erzeugt. Aufgrund deren relativer Abweichungen wird eine Einschätzung der EMV-Mess- und -prüfqualität in Deutschland ermöglicht mit dem Ziel, die Resultate aller Laboratorien einander anzugleichen. 
540 |a © 2003 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH 
690 7 |a Engineering: general  |2 nationallicence 
690 7 |a Instruments & instrumentation engineering  |2 nationallicence 
690 7 |a Materials science  |2 nationallicence 
700 1 |a Spitzer  |D M.  |4 aut 
700 1 |a Münter  |D K.  |4 aut 
700 1 |a Pape  |D R.  |4 aut 
700 1 |a Glimm  |D J.  |4 aut 
700 1 |a Dallwitz  |D L.  |4 aut 
773 0 |t tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme  |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH  |g 70/3/2003(2003-03-01), 151-162  |x 0171-8096  |q 70:3/2003<151  |1 2003  |2 70  |o teme 
856 4 0 |u https://doi.org/10.1524/teme.70.3.151.20093  |q text/html  |z Onlinezugriff via DOI 
908 |D 1  |a research article  |2 jats 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 856  |E 40  |u https://doi.org/10.1524/teme.70.3.151.20093  |q text/html  |z Onlinezugriff via DOI 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Spitzer  |D M.  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Münter  |D K.  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Pape  |D R.  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Glimm  |D J.  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Dallwitz  |D L.  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 773  |E 0-  |t tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme  |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH  |g 70/3/2003(2003-03-01), 151-162  |x 0171-8096  |q 70:3/2003<151  |1 2003  |2 70  |o teme 
900 7 |b CC0  |u http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0  |2 nationallicence 
898 |a BK010053  |b XK010053  |c XK010000 
949 |B NATIONALLICENCE  |F NATIONALLICENCE  |b NL-gruyter