<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim">
 <record>
  <leader>     caa a22        4500</leader>
  <controlfield tag="001">378882902</controlfield>
  <controlfield tag="003">CHVBK</controlfield>
  <controlfield tag="005">20180305123436.0</controlfield>
  <controlfield tag="007">cr unu---uuuuu</controlfield>
  <controlfield tag="008">161128e20040801xx      s     000 0 ger  </controlfield>
  <datafield tag="024" ind1="7" ind2="0">
   <subfield code="a">10.1524/teme.71.7.404.36696</subfield>
   <subfield code="2">doi</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="035" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">(NATIONALLICENCE)gruyter-10.1524/teme.71.7.404.36696</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="245" ind1="0" ind2="0">
   <subfield code="a">Methoden und Sensoren zur Überwachung von Handhabungs- und Fügeprozessen in der Mikrosystemtechnik (Methods and Sensors for the Control of Handling and Assembly Processes in Microtechnology)</subfield>
   <subfield code="h">[Elektronische Daten]</subfield>
   <subfield code="c">[Sascha Driessen, Bastian Engelmann]</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="246" ind1="1" ind2=" ">
   <subfield code="a">Methods and Sensors for the Control of Handling and Assembly Processes in Microtechnology</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="520" ind1="3" ind2=" ">
   <subfield code="a">Der vorliegende Artikel stellt aus dem Gebiet der prozessintermittierenden Qualitätskontrolle Aspekte aus dem Bereich der Form- und Lageerkennung von Mikrobauteilen mittels faseroptischer Streifenprojektion und eine Anwendung von bildverarbeitungsgestützter Prozessüberwachung vor. Zur Thematik der klassischen Postprozessmesstechnik wird im Kontext der konfokalen Laserscanningmikroskopie eine Möglichkeit zur Erhöhung der Flexibilität des Messverfahrens auf Basis angepasster Signalauswertung dargestellt.</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="540" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">© 2004 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="690" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">Engineering: general</subfield>
   <subfield code="2">nationallicence</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="690" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">Instruments &amp; instrumentation engineering</subfield>
   <subfield code="2">nationallicence</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="690" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="a">Materials science</subfield>
   <subfield code="2">nationallicence</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="700" ind1="1" ind2=" ">
   <subfield code="a">Driessen</subfield>
   <subfield code="D">Sascha</subfield>
   <subfield code="4">aut</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="700" ind1="1" ind2=" ">
   <subfield code="a">Engelmann</subfield>
   <subfield code="D">Bastian</subfield>
   <subfield code="4">aut</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="773" ind1="0" ind2=" ">
   <subfield code="t">tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme</subfield>
   <subfield code="d">Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH</subfield>
   <subfield code="g">71/7/8/2004(2004-08-01), 404-416</subfield>
   <subfield code="x">0171-8096</subfield>
   <subfield code="q">71:7/8/2004&lt;404</subfield>
   <subfield code="1">2004</subfield>
   <subfield code="2">71</subfield>
   <subfield code="o">teme</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="856" ind1="4" ind2="0">
   <subfield code="u">https://doi.org/10.1524/teme.71.7.404.36696</subfield>
   <subfield code="q">text/html</subfield>
   <subfield code="z">Onlinezugriff via DOI</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="908" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="D">1</subfield>
   <subfield code="a">research article</subfield>
   <subfield code="2">jats</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NATIONALLICENCE</subfield>
   <subfield code="P">856</subfield>
   <subfield code="E">40</subfield>
   <subfield code="u">https://doi.org/10.1524/teme.71.7.404.36696</subfield>
   <subfield code="q">text/html</subfield>
   <subfield code="z">Onlinezugriff via DOI</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NATIONALLICENCE</subfield>
   <subfield code="P">700</subfield>
   <subfield code="E">1-</subfield>
   <subfield code="a">Driessen</subfield>
   <subfield code="D">Sascha</subfield>
   <subfield code="4">aut</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NATIONALLICENCE</subfield>
   <subfield code="P">700</subfield>
   <subfield code="E">1-</subfield>
   <subfield code="a">Engelmann</subfield>
   <subfield code="D">Bastian</subfield>
   <subfield code="4">aut</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="950" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NATIONALLICENCE</subfield>
   <subfield code="P">773</subfield>
   <subfield code="E">0-</subfield>
   <subfield code="t">tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme</subfield>
   <subfield code="d">Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH</subfield>
   <subfield code="g">71/7/8/2004(2004-08-01), 404-416</subfield>
   <subfield code="x">0171-8096</subfield>
   <subfield code="q">71:7/8/2004&lt;404</subfield>
   <subfield code="1">2004</subfield>
   <subfield code="2">71</subfield>
   <subfield code="o">teme</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="900" ind1=" " ind2="7">
   <subfield code="b">CC0</subfield>
   <subfield code="u">http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0</subfield>
   <subfield code="2">nationallicence</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="898" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="a">BK010053</subfield>
   <subfield code="b">XK010053</subfield>
   <subfield code="c">XK010000</subfield>
  </datafield>
  <datafield tag="949" ind1=" " ind2=" ">
   <subfield code="B">NATIONALLICENCE</subfield>
   <subfield code="F">NATIONALLICENCE</subfield>
   <subfield code="b">NL-gruyter</subfield>
  </datafield>
 </record>
</collection>
