Neuartiger Mode-Locking-External-Cavity-Laserdiodensensor zur absoluten Positionsmessung von rauen Oberflächen (Novel Mode-Locking External Cavity Laser Diode Sensor for the Absolute Position Measurements of Rough Surfaces)
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[Jürgen Czarske, Jasper Möbius, Karsten Moldenhauer, Thorsten Razik, Hans K. Tönshoff, Thomas Müller-Wirts]
Ort, Verlag, Jahr:
2004
Enthalten in:
tm - Technisches Messen/Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik, 71/12/2004(2004-12-01), 623-633
Format:
Artikel (online)
Online Zugang:
| LEADER | caa a22 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 378886576 | ||
| 003 | CHVBK | ||
| 005 | 20180305123444.0 | ||
| 007 | cr unu---uuuuu | ||
| 008 | 161128e20041201xx s 000 0 ger | ||
| 024 | 7 | 0 | |a 10.1524/teme.71.12.623.54695 |2 doi |
| 035 | |a (NATIONALLICENCE)gruyter-10.1524/teme.71.12.623.54695 | ||
| 245 | 0 | 0 | |a Neuartiger Mode-Locking-External-Cavity-Laserdiodensensor zur absoluten Positionsmessung von rauen Oberflächen (Novel Mode-Locking External Cavity Laser Diode Sensor for the Absolute Position Measurements of Rough Surfaces) |h [Elektronische Daten] |c [Jürgen Czarske, Jasper Möbius, Karsten Moldenhauer, Thorsten Razik, Hans K. Tönshoff, Thomas Müller-Wirts] |
| 246 | 1 | |a Novel Mode-Locking External Cavity Laser Diode Sensor for the Absolute Position Measurements of Rough Surfaces | |
| 520 | 3 | |a Konventionelle optische Sensoren nutzen Messeffekte außerhalb der Lichtquelle. Bei dem vorgestellten Lasersensor wird demgegenüber das Messobjekt in einen Fabry-Perot-Laserresonator integriert. Dabei ist die technische Oberfläche des Messobjektes als externer Reflektor des Resonators aufzufassen. Die gesuchte Abstandsinformation wird damit der Laseremission direkt aufgeprägt und steht über die Messung des longitudinalen Modenabstands zur Verfügung. Der realisierte Mode-Locking-External-Cavity-Laserdiodensensor erlaubt axiale, absolute Positionsmessungen mit Mikrometerauflösung und weist als Vorteil eine hohe Messdatenrate auf. Die Anwendungen liegen beispielsweise in der Qualitätskontrolle bei der Lasermaterialbearbeitung und von Schleifprozessen. | |
| 540 | |a © 2004 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH | ||
| 690 | 7 | |a Engineering: general |2 nationallicence | |
| 690 | 7 | |a Instruments & instrumentation engineering |2 nationallicence | |
| 690 | 7 | |a Materials science |2 nationallicence | |
| 700 | 1 | |a Czarske |D Jürgen |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Möbius |D Jasper |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Moldenhauer |D Karsten |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Razik |D Thorsten |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Tönshoff |D Hans K. |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Müller-Wirts |D Thomas |4 aut | |
| 773 | 0 | |t tm - Technisches Messen/Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH |g 71/12/2004(2004-12-01), 623-633 |x 0171-8096 |q 71:12/2004<623 |1 2004 |2 71 |o teme | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://doi.org/10.1524/teme.71.12.623.54695 |q text/html |z Onlinezugriff via DOI |
| 908 | |D 1 |a research article |2 jats | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 856 |E 40 |u https://doi.org/10.1524/teme.71.12.623.54695 |q text/html |z Onlinezugriff via DOI | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Czarske |D Jürgen |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Möbius |D Jasper |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Moldenhauer |D Karsten |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Razik |D Thorsten |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Tönshoff |D Hans K. |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Müller-Wirts |D Thomas |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 773 |E 0- |t tm - Technisches Messen/Plattform für Methoden, Systeme und Anwendungen der Messtechnik |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH |g 71/12/2004(2004-12-01), 623-633 |x 0171-8096 |q 71:12/2004<623 |1 2004 |2 71 |o teme | ||
| 900 | 7 | |b CC0 |u http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0 |2 nationallicence | |
| 898 | |a BK010053 |b XK010053 |c XK010000 | ||
| 949 | |B NATIONALLICENCE |F NATIONALLICENCE |b NL-gruyter | ||