Anwendung der Impedanzspektrometrie zur Selbstüberwachung amperometrischer Gassensoren (Use of Impedance Spectrometry for Self-Monitoring of Amperometric Gas Sensors)
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[Michael Horn]
Ort, Verlag, Jahr:
2004
Enthalten in:
tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme, 71/9/2004(2004-09-01), 501-508
Format:
Artikel (online)
Online Zugang:
| LEADER | caa a22 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 378919652 | ||
| 003 | CHVBK | ||
| 005 | 20180305123602.0 | ||
| 007 | cr unu---uuuuu | ||
| 008 | 161128e20040901xx s 000 0 ger | ||
| 024 | 7 | 0 | |a 10.1524/teme.71.9.501.42748 |2 doi |
| 035 | |a (NATIONALLICENCE)gruyter-10.1524/teme.71.9.501.42748 | ||
| 100 | 1 | |a Horn |D Michael | |
| 245 | 1 | 0 | |a Anwendung der Impedanzspektrometrie zur Selbstüberwachung amperometrischer Gassensoren (Use of Impedance Spectrometry for Self-Monitoring of Amperometric Gas Sensors) |h [Elektronische Daten] |c [Michael Horn] |
| 246 | 0 | |a Use of Impedance Spectrometry for Self-Monitoring of Amperometric Gas Sensors | |
| 520 | 3 | |a Die Empfindlichkeit amperometrischer Gassensoren ist proportional zur Größe der elektrochemisch aktiven Fläche. Die Größe dieser Fläche verringert sich durch Ablagerungen und Verschmutzung des Katalysators und sollte deshalb während des Betriebes automatisch überwacht werden. Da die Doppelschichtkapazität und der Durchtrittsleitwert ebenfalls proportional zur Elektrodenfläche sind, können diese durch impedanzspektrometrische Messungen bestimmt und zur Selbstüberwachung der Sensoren herangezogen werden. Die Bestimmung der Größe der Doppelschichtkapazität erfolgt durch modellgestützte Auswertung der Impedanzspektren der gesamten Messanordnung, deren Ersatzschaltbild durch einen Satz von insgesamt neun Modellparametern gekennzeichnet ist gekennzeichnet ist. Die Analyse dieser neun Parameter zeigt, dass davon nur zwei exemplarspezifisch sind und während des Betriebes bestimmt werden müssen; die anderen sind typspezifisch bzw. im gewählten Frequenzbereich nicht relevant. | |
| 540 | |a © 2004 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH | ||
| 690 | 7 | |a Engineering: general |2 nationallicence | |
| 690 | 7 | |a Instruments & instrumentation engineering |2 nationallicence | |
| 690 | 7 | |a Materials science |2 nationallicence | |
| 773 | 0 | |t tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH |g 71/9/2004(2004-09-01), 501-508 |x 0171-8096 |q 71:9/2004<501 |1 2004 |2 71 |o teme | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://doi.org/10.1524/teme.71.9.501.42748 |q text/html |z Onlinezugriff via DOI |
| 908 | |D 1 |a research article |2 jats | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 856 |E 40 |u https://doi.org/10.1524/teme.71.9.501.42748 |q text/html |z Onlinezugriff via DOI | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 100 |E 1- |a Horn |D Michael | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 773 |E 0- |t tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH |g 71/9/2004(2004-09-01), 501-508 |x 0171-8096 |q 71:9/2004<501 |1 2004 |2 71 |o teme | ||
| 900 | 7 | |b CC0 |u http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0 |2 nationallicence | |
| 898 | |a BK010053 |b XK010053 |c XK010000 | ||
| 949 | |B NATIONALLICENCE |F NATIONALLICENCE |b NL-gruyter | ||