Selbstnachführendes Laserinterferometer für die Koordinatenmesstechnik (Tracking Laser Interferometer for Coordinate Metrology)

Verfasser / Beitragende:
[Frank Härtig, Christian Keck, Karin Kniel, Heinrich Schwenke, Franz Wäldele, Klaus Wendt]
Ort, Verlag, Jahr:
2004
Enthalten in:
tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme, 71/4/2004(2004-04-01), 227-232
Format:
Artikel (online)
ID: 378933922
LEADER caa a22 4500
001 378933922
003 CHVBK
005 20180305123636.0
007 cr unu---uuuuu
008 161128e20040401xx s 000 0 ger
024 7 0 |a 10.1524/teme.71.4.227.30458  |2 doi 
035 |a (NATIONALLICENCE)gruyter-10.1524/teme.71.4.227.30458 
245 0 0 |a Selbstnachführendes Laserinterferometer für die Koordinatenmesstechnik (Tracking Laser Interferometer for Coordinate Metrology)  |h [Elektronische Daten]  |c [Frank Härtig, Christian Keck, Karin Kniel, Heinrich Schwenke, Franz Wäldele, Klaus Wendt] 
246 1 |a Tracking Laser Interferometer for Coordinate Metrology 
520 3 |a Die Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten (KMG) kann durch die Integration eines selbstnachführenden Laserinterferometers deutlich verbessert werden. Das in der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) entwickelte Verfahren verknüpft die Koordinaten jedes gemessenen Punktes des KMG mit einer hochgenauen interferometrischen Längeninformation. Die zentrale Komponente hierbei ist das ebenfalls in der PTB entwickelte selbstnachführende Laserinterferometer. Sein konstruktiver Aufbau ermöglicht hochgenaue Abstandsmessungen im Raum. Ergebnisse aus Simulationen und Messungen verifizieren das neue Verfahren. 
540 |a © 2004 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH 
690 7 |a Engineering: general  |2 nationallicence 
690 7 |a Instruments & instrumentation engineering  |2 nationallicence 
690 7 |a Materials science  |2 nationallicence 
700 1 |a Härtig  |D Frank  |4 aut 
700 1 |a Keck  |D Christian  |4 aut 
700 1 |a Kniel  |D Karin  |4 aut 
700 1 |a Schwenke  |D Heinrich  |4 aut 
700 1 |a Wäldele  |D Franz  |4 aut 
700 1 |a Wendt  |D Klaus  |4 aut 
773 0 |t tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme  |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH  |g 71/4/2004(2004-04-01), 227-232  |x 0171-8096  |q 71:4/2004<227  |1 2004  |2 71  |o teme 
856 4 0 |u https://doi.org/10.1524/teme.71.4.227.30458  |q text/html  |z Onlinezugriff via DOI 
908 |D 1  |a research article  |2 jats 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 856  |E 40  |u https://doi.org/10.1524/teme.71.4.227.30458  |q text/html  |z Onlinezugriff via DOI 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Härtig  |D Frank  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Keck  |D Christian  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Kniel  |D Karin  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Schwenke  |D Heinrich  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Wäldele  |D Franz  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 700  |E 1-  |a Wendt  |D Klaus  |4 aut 
950 |B NATIONALLICENCE  |P 773  |E 0-  |t tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme  |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH  |g 71/4/2004(2004-04-01), 227-232  |x 0171-8096  |q 71:4/2004<227  |1 2004  |2 71  |o teme 
900 7 |b CC0  |u http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0  |2 nationallicence 
898 |a BK010053  |b XK010053  |c XK010000 
949 |B NATIONALLICENCE  |F NATIONALLICENCE  |b NL-gruyter