Methoden der interferometrischen Formerfassung nicht-ruhender technischer Oberflächen (Methods for Interferometric Contour Measurement of Non Stationary Technical Surfaces)
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| 245 | 0 | 0 | |a Methoden der interferometrischen Formerfassung nicht-ruhender technischer Oberflächen (Methods for Interferometric Contour Measurement of Non Stationary Technical Surfaces) |h [Elektronische Daten] |c [Andreas Meixner, Andreas Purde, Hans Schweizer, Philipp Kirilenko, Markus Riemenschneider, Thomas Zeh, Alexander W. Koch] |
| 246 | 1 | |a Methods for Interferometric Contour Measurement of Non Stationary Technical Surfaces | |
| 520 | 3 | |a Die moderne Qualitätsprüfung technischer Oberflächen erfordert zunehmend berührungslose und zerstörungsfreie Messverfahren. Die Triangulation sowie die Weißlichtinterferometrie erfüllen hier die meisten Anforderungen bezüglich Messgenauigkeit. Zur Messung nicht-ruhender Objekte sind diese Verfahren jedoch meist nur begrenzt geeignet. Die Zwei-Wellenlängen-Speckle-Interferometrie bietet eine interessante Alternative für Einsatzgebiete, bei welchen besonders die Messzeit eine entscheidende Rolle spielt. Es wird ein Messsystem vorgestellt, das die simultane Aufzeichnung aller für die interferometrische Formerfassung notwendigen Daten ermöglicht und somit den Einfluss von Bewegungen weitgehend unterdrücken kann. Eine GPU-basierte (GPU = Graphic Processing Unit) Interferogramm-Auswertung ermöglicht eine hohe Messgeschwindigkeit und Messrate. | |
| 540 | |a © 2004 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH | ||
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| 690 | 7 | |a Instruments & instrumentation engineering |2 nationallicence | |
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