caa a22 4500 378933965 CHVBK 20180305123636.0 cr unu---uuuuu 161128e20040401xx s 000 0 ger 10.1524/teme.71.4.211.30453 doi (NATIONALLICENCE)gruyter-10.1524/teme.71.4.211.30453 Methoden der interferometrischen Formerfassung nicht-ruhender technischer Oberflächen (Methods for Interferometric Contour Measurement of Non Stationary Technical Surfaces) [Elektronische Daten] [Andreas Meixner, Andreas Purde, Hans Schweizer, Philipp Kirilenko, Markus Riemenschneider, Thomas Zeh, Alexander W. Koch] Methods for Interferometric Contour Measurement of Non Stationary Technical Surfaces Die moderne Qualitätsprüfung technischer Oberflächen erfordert zunehmend berührungslose und zerstörungsfreie Messverfahren. Die Triangulation sowie die Weißlichtinterferometrie erfüllen hier die meisten Anforderungen bezüglich Messgenauigkeit. Zur Messung nicht-ruhender Objekte sind diese Verfahren jedoch meist nur begrenzt geeignet. Die Zwei-Wellenlängen-Speckle-Interferometrie bietet eine interessante Alternative für Einsatzgebiete, bei welchen besonders die Messzeit eine entscheidende Rolle spielt. Es wird ein Messsystem vorgestellt, das die simultane Aufzeichnung aller für die interferometrische Formerfassung notwendigen Daten ermöglicht und somit den Einfluss von Bewegungen weitgehend unterdrücken kann. Eine GPU-basierte (GPU = Graphic Processing Unit) Interferogramm-Auswertung ermöglicht eine hohe Messgeschwindigkeit und Messrate. © 2004 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH Engineering: general nationallicence Instruments & instrumentation engineering nationallicence Materials science nationallicence Meixner Andreas aut Purde Andreas aut Schweizer Hans aut Kirilenko Philipp aut Riemenschneider Markus aut Zeh Thomas aut Koch Alexander W. aut tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH 71/4/2004(2004-04-01), 211-217 0171-8096 71:4/2004<211 2004 71 teme https://doi.org/10.1524/teme.71.4.211.30453 text/html Onlinezugriff via DOI 1 research article jats NATIONALLICENCE 856 40 https://doi.org/10.1524/teme.71.4.211.30453 text/html Onlinezugriff via DOI NATIONALLICENCE 700 1- Meixner Andreas aut NATIONALLICENCE 700 1- Purde Andreas aut NATIONALLICENCE 700 1- Schweizer Hans aut NATIONALLICENCE 700 1- Kirilenko Philipp aut NATIONALLICENCE 700 1- Riemenschneider Markus aut NATIONALLICENCE 700 1- Zeh Thomas aut NATIONALLICENCE 700 1- Koch Alexander W. aut NATIONALLICENCE 773 0- tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH 71/4/2004(2004-04-01), 211-217 0171-8096 71:4/2004<211 2004 71 teme CC0 http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0 nationallicence BK010053 XK010053 XK010000 NATIONALLICENCE NATIONALLICENCE NL-gruyter