Bildfolgenauswertung zur Inspektion geschliffener Oberflächen (Analysis of Image Sequences for the Inspection of Grinded Surfaces)
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[Binjian Xin, Michael Heizmann, Sören Kammel, Christoph Stiller]
Ort, Verlag, Jahr:
2004
Enthalten in:
tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme, 71/4/2004(2004-04-01), 218-226
Format:
Artikel (online)
Online Zugang:
| LEADER | caa a22 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 378933973 | ||
| 003 | CHVBK | ||
| 005 | 20180305123636.0 | ||
| 007 | cr unu---uuuuu | ||
| 008 | 161128e20040401xx s 000 0 ger | ||
| 024 | 7 | 0 | |a 10.1524/teme.71.4.218.30450 |2 doi |
| 035 | |a (NATIONALLICENCE)gruyter-10.1524/teme.71.4.218.30450 | ||
| 245 | 0 | 0 | |a Bildfolgenauswertung zur Inspektion geschliffener Oberflächen (Analysis of Image Sequences for the Inspection of Grinded Surfaces) |h [Elektronische Daten] |c [Binjian Xin, Michael Heizmann, Sören Kammel, Christoph Stiller] |
| 246 | 1 | |a Analysis of Image Sequences for the Inspection of Grinded Surfaces | |
| 520 | 3 | |a Thema des Beitrags ist die automatische visuelle Inspektion geschliffener Oberflächen. Dazu werden neuartige Strategien auf der Grundlage von Bildfolgen mit variiertem Azimut einer gerichteten Beleuchtung vorgestellt, die sich zur Detektion von Fehlstellen in Schleiftexturen mit mehreren Riefenscharen eignen. Im Parameterraum der Beleuchtung werden geeignete Merkmale definiert, um Defektstellen in der Schleiftextur sicher zu klassifizieren. Gegenüber Standardverfahren, die eine Texturanalyse durch Auswertung lokaler Nachbarschaftsbeziehungen vornehmen, benötigen die hier gezeigten Strategien eine bedeutend geringere Bildauflösung und erweisen sich auch bei den i. Allg. schwierig zu beleuchtenden Schleiftexturen als zuverlässig und robust. | |
| 540 | |a © 2004 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH | ||
| 690 | 7 | |a Engineering: general |2 nationallicence | |
| 690 | 7 | |a Instruments & instrumentation engineering |2 nationallicence | |
| 690 | 7 | |a Materials science |2 nationallicence | |
| 700 | 1 | |a Xin |D Binjian |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Heizmann |D Michael |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Kammel |D Sören |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Stiller |D Christoph |4 aut | |
| 773 | 0 | |t tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH |g 71/4/2004(2004-04-01), 218-226 |x 0171-8096 |q 71:4/2004<218 |1 2004 |2 71 |o teme | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://doi.org/10.1524/teme.71.4.218.30450 |q text/html |z Onlinezugriff via DOI |
| 908 | |D 1 |a research article |2 jats | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 856 |E 40 |u https://doi.org/10.1524/teme.71.4.218.30450 |q text/html |z Onlinezugriff via DOI | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Xin |D Binjian |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Heizmann |D Michael |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Kammel |D Sören |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 700 |E 1- |a Stiller |D Christoph |4 aut | ||
| 950 | |B NATIONALLICENCE |P 773 |E 0- |t tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme |d Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH |g 71/4/2004(2004-04-01), 218-226 |x 0171-8096 |q 71:4/2004<218 |1 2004 |2 71 |o teme | ||
| 900 | 7 | |b CC0 |u http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0 |2 nationallicence | |
| 898 | |a BK010053 |b XK010053 |c XK010000 | ||
| 949 | |B NATIONALLICENCE |F NATIONALLICENCE |b NL-gruyter | ||