caa a22 4500 378933973 CHVBK 20180305123636.0 cr unu---uuuuu 161128e20040401xx s 000 0 ger 10.1524/teme.71.4.218.30450 doi (NATIONALLICENCE)gruyter-10.1524/teme.71.4.218.30450 Bildfolgenauswertung zur Inspektion geschliffener Oberflächen (Analysis of Image Sequences for the Inspection of Grinded Surfaces) [Elektronische Daten] [Binjian Xin, Michael Heizmann, Sören Kammel, Christoph Stiller] Analysis of Image Sequences for the Inspection of Grinded Surfaces Thema des Beitrags ist die automatische visuelle Inspektion geschliffener Oberflächen. Dazu werden neuartige Strategien auf der Grundlage von Bildfolgen mit variiertem Azimut einer gerichteten Beleuchtung vorgestellt, die sich zur Detektion von Fehlstellen in Schleiftexturen mit mehreren Riefenscharen eignen. Im Parameterraum der Beleuchtung werden geeignete Merkmale definiert, um Defektstellen in der Schleiftextur sicher zu klassifizieren. Gegenüber Standardverfahren, die eine Texturanalyse durch Auswertung lokaler Nachbarschaftsbeziehungen vornehmen, benötigen die hier gezeigten Strategien eine bedeutend geringere Bildauflösung und erweisen sich auch bei den i. Allg. schwierig zu beleuchtenden Schleiftexturen als zuverlässig und robust. © 2004 Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH Engineering: general nationallicence Instruments & instrumentation engineering nationallicence Materials science nationallicence Xin Binjian aut Heizmann Michael aut Kammel Sören aut Stiller Christoph aut tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH 71/4/2004(2004-04-01), 218-226 0171-8096 71:4/2004<218 2004 71 teme https://doi.org/10.1524/teme.71.4.218.30450 text/html Onlinezugriff via DOI 1 research article jats NATIONALLICENCE 856 40 https://doi.org/10.1524/teme.71.4.218.30450 text/html Onlinezugriff via DOI NATIONALLICENCE 700 1- Xin Binjian aut NATIONALLICENCE 700 1- Heizmann Michael aut NATIONALLICENCE 700 1- Kammel Sören aut NATIONALLICENCE 700 1- Stiller Christoph aut NATIONALLICENCE 773 0- tm - Technisches Messen/Sensoren, Geräte, Systeme Oldenbourg Wissenschaftsverlag GmbH 71/4/2004(2004-04-01), 218-226 0171-8096 71:4/2004<218 2004 71 teme CC0 http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0 nationallicence BK010053 XK010053 XK010000 NATIONALLICENCE NATIONALLICENCE NL-gruyter