On the nature of the direct image of defects in diffraction methods of X-ray topography
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[E. Suvorov, I. Smirnova]
Ort, Verlag, Jahr:
2010
Enthalten in:
Physics of the Solid State, 52/12(2010-12-01), 2485-2489
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: