Electrostatic interaction of an atomic force microscope probe with a sample surface
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[G. Dedkov, A. Kanametov]
Ort, Verlag, Jahr:
2010
Enthalten in:
Technical Physics Letters, 36/3(2010-03-01), 248-250
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: