Formation and use of positioning marks in scanning probe microscopy
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[V. Lozovskii, S. Chebotarev, V. Irkha, G. Valov]
Ort, Verlag, Jahr:
2010
Enthalten in:
Technical Physics Letters, 36/8(2010-08-01), 737-738
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: