Detecting quasi-periodic {11 n } ( n
7-11) faces in samples with Ge/Si quantum dots by grazing X-ray reflectometry
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[L. Goray, N. Chkhalo, Yu. Vainer]
Ort, Verlag, Jahr:
2010
Enthalten in:
Technical Physics Letters, 36/2(2010-02-01), 108-111
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: