caa a22 4500 445369574 CHVBK 20180317142942.0 cr unu---uuuuu 170323e20110901xx s 000 0 eng 10.1007/s00340-011-4384-8 doi (NATIONALLICENCE)springer-10.1007/s00340-011-4384-8 Experimental and theoretical analysis of bias ionization by α -particles in a nitrogen laser [Elektronische Daten] [R. Silva, L. Vieira Mendes, K. Tsui, R. De Simone Zanon, A. de Oliveira, C. Fellows] Nitrogen laser performance with TE configuration and wedge electrodes is analyzed with background ionization in the laser discharge channel by α particles at a low exposition rate. With the bias ionization, the laser power presents two peaks as a function of gas pressure, with one at the normal low pressure, without bias ionization, and the other at high pressure generated by bias ionization. A simple theoretical model has been developed in a trial to understand this behavior. This model was first tested in later results for a TE configuration nitrogen laser, with flat electrodes, without and with bias ionization. It has been observed that due to the competition between electrode shielding by positively charged α particles and bulk ionization by impact, the laser energy is suppressed with pressure below 50 Torr and enhanced above it. Springer-Verlag, 2011 Silva R. Laboratório de Espectroscopia e Laser, Instituto de Física, Universidade Federal Fluminense, Campus da Boa Viagem, Av. Gen. Milton Tavares de Souza, s/n, Boa Viagem, 24210-340, Niterói, RJ, Brazil aut Vieira Mendes L. Laboratório de Espectroscopia e Laser, Instituto de Física, Universidade Federal Fluminense, Campus da Boa Viagem, Av. Gen. Milton Tavares de Souza, s/n, Boa Viagem, 24210-340, Niterói, RJ, Brazil aut Tsui K. Laboratório de Espectroscopia e Laser, Instituto de Física, Universidade Federal Fluminense, Campus da Boa Viagem, Av. Gen. Milton Tavares de Souza, s/n, Boa Viagem, 24210-340, Niterói, RJ, Brazil aut De Simone Zanon R. Departamento de Física, Centro de Ciências Tecnológicas, CCT, Universidade do Estado de Santa Catarina, Campus Universitário Prof. Avelino Marcante, Rua Paulo Malschitzki, s/n, Zona Industrial Norte, 89219-710, Joinville, SC, Brazil aut de Oliveira A. Departamento de Física, Centro de Ciências Tecnológicas, CCT, Universidade do Estado de Santa Catarina, Campus Universitário Prof. Avelino Marcante, Rua Paulo Malschitzki, s/n, Zona Industrial Norte, 89219-710, Joinville, SC, Brazil aut Fellows C. Laboratório de Espectroscopia e Laser, Instituto de Física, Universidade Federal Fluminense, Campus da Boa Viagem, Av. Gen. Milton Tavares de Souza, s/n, Boa Viagem, 24210-340, Niterói, RJ, Brazil aut Applied Physics B Springer-Verlag 104/3(2011-09-01), 679-687 0946-2171 104:3<679 2011 104 340 https://doi.org/10.1007/s00340-011-4384-8 text/html Onlinezugriff via DOI 1 research-article jats NATIONALLICENCE 856 40 https://doi.org/10.1007/s00340-011-4384-8 text/html Onlinezugriff via DOI NATIONALLICENCE 700 1- Silva R. Laboratório de Espectroscopia e Laser, Instituto de Física, Universidade Federal Fluminense, Campus da Boa Viagem, Av. Gen. Milton Tavares de Souza, s/n, Boa Viagem, 24210-340, Niterói, RJ, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Vieira Mendes L. Laboratório de Espectroscopia e Laser, Instituto de Física, Universidade Federal Fluminense, Campus da Boa Viagem, Av. Gen. Milton Tavares de Souza, s/n, Boa Viagem, 24210-340, Niterói, RJ, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Tsui K. Laboratório de Espectroscopia e Laser, Instituto de Física, Universidade Federal Fluminense, Campus da Boa Viagem, Av. Gen. Milton Tavares de Souza, s/n, Boa Viagem, 24210-340, Niterói, RJ, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- De Simone Zanon R. Departamento de Física, Centro de Ciências Tecnológicas, CCT, Universidade do Estado de Santa Catarina, Campus Universitário Prof. Avelino Marcante, Rua Paulo Malschitzki, s/n, Zona Industrial Norte, 89219-710, Joinville, SC, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- de Oliveira A. Departamento de Física, Centro de Ciências Tecnológicas, CCT, Universidade do Estado de Santa Catarina, Campus Universitário Prof. Avelino Marcante, Rua Paulo Malschitzki, s/n, Zona Industrial Norte, 89219-710, Joinville, SC, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Fellows C. Laboratório de Espectroscopia e Laser, Instituto de Física, Universidade Federal Fluminense, Campus da Boa Viagem, Av. Gen. Milton Tavares de Souza, s/n, Boa Viagem, 24210-340, Niterói, RJ, Brazil aut NATIONALLICENCE 773 0- Applied Physics B Springer-Verlag 104/3(2011-09-01), 679-687 0946-2171 104:3<679 2011 104 340 Metadata rights reserved Springer special CC-BY-NC licence nationallicence BK010053 XK010053 XK010000 NATIONALLICENCE NATIONALLICENCE NL-springer