The two-probe method of measuring the lifetimes of current carriers in semiconducting films
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[V. Kon'kov]
Ort, Verlag, Jahr:
1965
Enthalten in:
Soviet Physics Journal, 8/6(1965-11-01), 108-109
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: