The use of ac measurements to determine physical processes occurring in thin film dielectrics
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[M. Fabian]
Ort, Verlag, Jahr:
1968
Enthalten in:
Journal of Materials Science, 3/3(1968-05-01), 288-292
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: