Scanning-electron-beam-excited charge collection micrography of GaAs lasers

Verfasser / Beitragende:
[D. Holt, B. Chase]
Ort, Verlag, Jahr:
1968
Enthalten in:
Journal of Materials Science, 3/2(1968-03-01), 178-182
Format:
Artikel (online)
ID: 450282228