Method for measuring the "residual” parameters of film resistors
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[M. Mikitinskii]
Ort, Verlag, Jahr:
1968
Enthalten in:
Measurement Techniques, 11/2(1968-02-01), 215-217
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: