Computation of a circuit for testing the angular sensitivity of optico-electronic systems

Verfasser / Beitragende:
[V. Soldatov, Yu. Yakushenkov]
Ort, Verlag, Jahr:
1968
Enthalten in:
Measurement Techniques, 11/11(1968-11-01), 1590-1591
Format:
Artikel (online)
ID: 450341860