Direct and inverse problems of determining the parameters of multilayer nanostructures from the angular spectrum of the intensity of reflected X-rays
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[R. Khachaturov]
Ort, Verlag, Jahr:
2009
Enthalten in:
Computational Mathematics and Mathematical Physics, 49/10(2009-10-01), 1781-1788
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: