The utility of resonant soft x-ray scattering and reflectivity for the nanoscale characterization of polymers
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[S. Swaraj, C. Wang, T. Araki, G. Mitchell, L. Liu, S. Gaynor, B. Deshmukh, H. Yan, C. R. McNeill, H. Ade]
Ort, Verlag, Jahr:
2009
Enthalten in:
The European Physical Journal Special Topics, 167/1(2009-02-01), 121-126
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: