Atomic-scale X-ray structural analysis of self-assembled monolayers on Silicon

Verfasser / Beitragende:
[J.-C. Lin, J. A. Kellar, J.-H. Kim, N. L. Yoder, K. H. Bevan, S. T. Nguyen, M. C. Hersam, M. J. Bedzyk]
Ort, Verlag, Jahr:
2009
Enthalten in:
The European Physical Journal Special Topics, 167/1(2009-02-01), 33-39
Format:
Artikel (online)
ID: 453619495