Rapid X-ray reflectivity measurement using a new liquid interface reflectometer at SPring-8

Verfasser / Beitragende:
[Y. F. Yano, T. Uruga, H. Tanida, H. Toyokawa, Y. Terada, M. Takagaki, H. Yamada]
Ort, Verlag, Jahr:
2009
Enthalten in:
The European Physical Journal Special Topics, 167/1(2009-02-01), 101-105
Format:
Artikel (online)
ID: 453619622