Structural properties of Ge/Si(001) nano-islands by diffraction anomalous fine structure and multiwavelength anomalous diffraction
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[M.-I. Richard, N. A. Katcho, M. G. Proietti, H. Renevier, V. Favre-Nicolin, Z. Zhong, G. Chen, M. Stoffel, O. Schmidt, G. Renaud, T. U. Schülli, G. Bauer]
Ort, Verlag, Jahr:
2009
Enthalten in:
The European Physical Journal Special Topics, 167/1(2009-02-01), 3-10
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: