Low-leakage diode-triggered silicon controlled rectifier for electrostatic discharge protection in 0.18-μm CMOS process

Verfasser / Beitragende:
[Xiao-yang Du, Shu-rong Dong, Yan Han, Ming-xu Huo, Da-hai Huang]
Ort, Verlag, Jahr:
2009
Enthalten in:
Journal of Zhejiang University-SCIENCE A, 10/7(2009-07-01), 1060-1066
Format:
Artikel (online)
ID: 453696643