caa a22 4500 46322311X CHVBK 20180405153218.0 cr unu---uuuuu 170326e20070301xx s 000 0 eng 10.1007/s10853-006-1190-5 doi (NATIONALLICENCE)springer-10.1007/s10853-006-1190-5 Electric properties of Bi4Ti3O12(BIT)-CaCu3Ti4O12 (CCTO) composite substrates for high dielectric constant devices [Elektronische Daten] [A. Pinheiro, F. Pereira, M. Santos, H. Rocha, A. Sombra] A study of the effect of the presence of BIT (Bi4Ti3O12) in the dielectric and optical properties of the CaCu3Ti4O12 (CCTO) is presented. The samples were prepared by the solid state procedure. Mechanical alloying followed by the solid state procedure has been used successfully to produce powders of CaCu3Ti4O12 (CCTO) and BIT (Bi4Ti3O12) to be used in the composites. We also look at the effect of the grain size of the BIT and CCTO in the final properties of the composite. The samples were studied using X-Ray diffraction, scanning electron microscopy (SEM), Raman and infrared spectroscopy. We also did a study of the dielectric function K and dielectric loss of the samples. The role played by the grain size of CCTO and BIT in the dielectric constant and structural properties of the substrates are discussed. For frequencies below 10MHz the K value presented by the CCTO100 sample is always higher than the K value presented by the BIT100 sample. At 100Hz the value of K 1900 for the CCTO100 sample and 288 for the BIT100 sample. However for the composite sample one has an unexpected result. The dielectric constant is higher for all the frequencies under study. At 100Hz the value of the K is around 10.000 for the BIT10 sample. Which is more than one order bigger compared to the CCTO100 value for the same frequency. Therefore, these measurements confirm the potential use of such materials for small high dielectric planar devices. These composites are also attractive for capacitor applications and certainly for microelectronics, microwave devices (cell mobile phones for example), where the miniaturization of the devices is crucial. Springer Science+Business Media, LLC, 2006 Pinheiro A. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut Pereira F. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut Santos M. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut Rocha H. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut Sombra A. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut Journal of Materials Science Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers; http://www.springer-ny.com 42/6(2007-03-01), 2112-2120 0022-2461 42:6<2112 2007 42 10853 https://doi.org/10.1007/s10853-006-1190-5 text/html Onlinezugriff via DOI 1 research-article jats NATIONALLICENCE 856 40 https://doi.org/10.1007/s10853-006-1190-5 text/html Onlinezugriff via DOI NATIONALLICENCE 700 1- Pinheiro A. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut NATIONALLICENCE 700 1- Pereira F. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut NATIONALLICENCE 700 1- Santos M. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut NATIONALLICENCE 700 1- Rocha H. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut NATIONALLICENCE 700 1- Sombra A. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Caixa Postal 6030, CEP 60455-760, Fortaleza, Ceará, Brasil aut NATIONALLICENCE 773 0- Journal of Materials Science Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers; http://www.springer-ny.com 42/6(2007-03-01), 2112-2120 0022-2461 42:6<2112 2007 42 10853 Metadata rights reserved Springer special CC-BY-NC licence nationallicence BK010053 XK010053 XK010000 NATIONALLICENCE NATIONALLICENCE NL-springer