caa a22 4500 463223128 CHVBK 20180405153218.0 cr unu---uuuuu 170326e20070301xx s 000 0 eng 10.1007/s10853-006-1322-y doi (NATIONALLICENCE)springer-10.1007/s10853-006-1322-y Non-stoichiometry and electronic properties of interfaces [Elektronische Daten] [A. Klein, F. Säuberlich, B. Späth, T. Schulmeyer, D. Kraft] The paper gives an overview on the influence of point defects on electronic properties of interfaces including band alignment (barrier heights) and transport properties. As examples interfaces between metals and the II-VI semiconductors CdTe and ZnTe are presented. In addition untypical phenomena at semiconductor heterocontact formation at In2S3/ZnO and CuInSe2/CdS interfaces is described. It is suggested that the barrier heights as well as the transport properties at both interfaces are strongly affected by defects, which are either present because of non-stoichiometry of the materials or introduced by contact formation due to chemical interactions. Springer Science+Business Media, LLC, 2006 Klein A. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut Säuberlich F. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut Späth B. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut Schulmeyer T. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut Kraft D. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut Journal of Materials Science Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers; http://www.springer-ny.com 42/6(2007-03-01), 1890-1900 0022-2461 42:6<1890 2007 42 10853 https://doi.org/10.1007/s10853-006-1322-y text/html Onlinezugriff via DOI 1 research-article jats NATIONALLICENCE 856 40 https://doi.org/10.1007/s10853-006-1322-y text/html Onlinezugriff via DOI NATIONALLICENCE 700 1- Klein A. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut NATIONALLICENCE 700 1- Säuberlich F. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut NATIONALLICENCE 700 1- Späth B. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut NATIONALLICENCE 700 1- Schulmeyer T. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut NATIONALLICENCE 700 1- Kraft D. Institut für Materialwissenschaft, Fachgebiet Oberflächenforschung, Technische Universität Darmstadt, Petersenstrasse 23, 64287, Darmstadt, Germany aut NATIONALLICENCE 773 0- Journal of Materials Science Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers; http://www.springer-ny.com 42/6(2007-03-01), 1890-1900 0022-2461 42:6<1890 2007 42 10853 Metadata rights reserved Springer special CC-BY-NC licence nationallicence BK010053 XK010053 XK010000 NATIONALLICENCE NATIONALLICENCE NL-springer