Selection and preparation of standard specimens for x-ray spectrum microanalysis
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[I. Gavrilenko, V. Surzhko]
Ort, Verlag, Jahr:
1989
Enthalten in:
Measurement Techniques, 32/6(1989-06-01), 608-611
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: