Factors influencing x-ray scintillation-counter metrological-characteristic stability

Verfasser / Beitragende:
[M. Globus, L. Zagarii, Yu. Tsirlin]
Ort, Verlag, Jahr:
1989
Enthalten in:
Measurement Techniques, 32/9(1989-09-01), 921-924
Format:
Artikel (online)
ID: 465520502