Measurement of semiopaque material thickness by the integral absorption method
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[A. Emel'yanov, M. Dulin, E. Antonova]
Ort, Verlag, Jahr:
1989
Enthalten in:
Measurement Techniques, 32/4(1989-04-01), 286-290
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: