Utilization of an optoelectronic signal to determine surface roughness parameters
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[B. Zolotykh, N. Morozova, S. Solodov]
Ort, Verlag, Jahr:
1989
Enthalten in:
Measurement Techniques, 32/5(1989-05-01), 408-411
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: