Nondestructive low-cycle fatigue characterization of multi-layer thin film structures

Verfasser / Beitragende:
[Yoshiki Oshida, P. Chen]
Ort, Verlag, Jahr:
1989
Enthalten in:
Journal of Nondestructive Evaluation, 8/4(1989-12-01), 235-245
Format:
Artikel (online)
ID: 465552862