Photothermal ionization spectroscopy for shallow impurities in ultra-pure silicon
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[S. Shen, Z. Yu, Y. Huang]
Ort, Verlag, Jahr:
1990
Enthalten in:
International Journal of Infrared and Millimeter Waves, 11/5(1990-05-01), 595-630
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: