Semiconductor Fatigue-Damage Indicator

Verfasser / Beitragende:
[M. Karabaev, K. Onarkulov, M. Akhmedov, D. Yusupova]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Journal of Engineering Physics and Thermophysics, 75/5(2002-09-01), 1227-1228
Format:
Artikel (online)
ID: 471077526