Equivalent linear logistic test models

Verfasser / Beitragende:
[Timo Bechger, Huub Verstralen, Norman Verhelst]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Psychometrika, 67/1(2002-03-01), 123-136
Format:
Artikel (online)
ID: 47111135X