Microstructural analysis of NiInGe ohmic contacts for n-type GaAs
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[Yukito Tsunoda, Masanori Murakami]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Journal of Electronic Materials, 31/1(2002-01-01), 76-81
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: