Nanoindentation and orientation imaging: Probing small volumes and thin films for mechanical properties

Verfasser / Beitragende:
[D. Bahr, K. Nibur, K. Morasch]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Journal of Electronic Materials, 31/1(2002-01-01), 66-70
Format:
Artikel (online)
ID: 471147079