Passivation effects on reactive-ion-etch-formed n-on-p junctions in HgCdTe
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[J. White, J. Antoszewski, R. Pal, C. Musca, J. Dell, L. Faraone, J. Piotrowski]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Journal of Electronic Materials, 31/7(2002-07-01), 743-748
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: