In-situ transmission electron microscopy study of the nanoindentation behavior of Al

Verfasser / Beitragende:
[A. Minor, E. Lilleodden, E. Stach, J. Morris Jr.]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Journal of Electronic Materials, 31/10(2002-10-01), 958-964
Format:
Artikel (online)
ID: 471148202